X射线荧光光谱仪(XRF)由引发源(X射线管)战探测体系形成

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X射线管发生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，而且分歧的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特征或波长特征。探测系统丈量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。

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